【技術文章】了解芯片貼裝熱性能
文章整理來源于:西門子官網作者:蘇杰 · 辛格 (Sujay Singh)約翰 · 帕里 (John Parry)內容摘要電力電子元件可提高...
Simcenter FLOEFD——實現燈具的高精度熱仿真
Simcenter FLOEFD優點●準確預測LED工作溫度和光輸出(熱流明)●實現高精度輻射仿真,使用先進的蒙特卡羅輻射模型與光譜吸收、反...
碳化硅器件功率循環測試解決方案
以碳化硅為代表的第三代寬禁帶半導體,可在更高溫度、電壓及頻率環境正常工作,同時消耗電力更少,持久性和可靠性更強,將為下一代更小體積、更快速度...
T3Ster結構函數應用-雙界面分離法測試RθJC(θJC)
半導體器件的結到殼之間的熱阻RθJC(θJC)是衡量器件從芯片到封裝表面外殼的熱擴散能力的參數,是半導體器件最重要的熱性能參數之一,它必須被...