Moku:Pro 終極性能測量與控制解決方案

產品名稱:

Moku:Pro 終極性能測量與控制解決方案
  • 產品簡介
Moku:Pro 為軟件定義精密測試測量儀器帶來了突破性的創新,它兼具了性能和儀器多功能性,提供高度整合的測試測量與控制一體化解決方案。



Moku:Pro 硬件采用高性能的 Xilinx Ultrascale+ FPGA 與高帶寬模擬前端,并結合了強大的網絡連接和存儲能力。通過軟件定義實現多種測試測量功能從而支持高速數據采集、處理和可視化、波形生成和實時控制等應用場景。
此外,Moku:Pro 前端設計還創造性地采用了先進的混合信號技術,執行來自多個 ADC 的頻率相關信號混合,從而實現從聲頻到射頻的卓越噪聲性能。



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9個專業儀器功能



? 任意波形發生器

? 數據記錄器

? 頻率響應分析儀

? 鎖相放大器

? 示波器

? 相位表

? PID控制器

? 頻譜分析儀

? 波形發生器


硬件亮點


? 卓越的低頻噪聲性能:全輸入帶寬下的噪聲500 μV RMS

? 120 GB 高速 SSD

? 板載高穩定時鐘 0.3 ppm

? 輸入到輸出延遲 < 650 ns


技術規格


四個模擬輸入

? 采樣率5 GSa/s(單通道),1.25GSa/s(四通道)

? 10位和18位ADC,具備隨頻率變化的信號混合功能

? 可選 300 MHz 或 600 MHz 模擬帶寬

? AC 或 DC耦合,50Ω 或 1MΩ 輸入阻抗



? 400 mVpp、4 Vpp 或 40 Vpp 輸入范圍



四個模擬輸出

? 16位,1.25 GSa/s DACs



? 輸出 ± 1 V 高達 500 MHz,± 5 V 高達100 MHz



額外的I/O 端口

? 專用的觸發輸入

? 10 MHz 同步輸入和輸出

? 板載 Wi-Fi、以太網和 USB-C



? 120 GB 高速 SSD



應用軟件和開發工具

? 強大的多點觸控用戶操作界面

? 支持 Python 和 MATLAB API




典型應用



? 高速數據采集

? 自動化測試序列

? 系統原型設計和仿真

? 閉環控制設計

? 光學計量和光譜學

? 用于光學、成像和其他定制系統

? 量子計算




高速數據采集



Moku:Pro兼具了高速數據采集設計,數據記錄器能夠將四個模擬輸入的數據連續寫入120GB的高速固態硬盤,每個通道的速度高達10MSa/s。使用示波器可以以高達5 GSa/s的速度拍攝較短的快照。除了直接的模擬輸入外,用戶還可以在 PID 控制器、鎖相放大器和相位表等儀器中通過內置的探測點直接調用示波器和數據記錄器的功能。板載數據記錄能最大限度地將額外的數據采集設備所帶來的成本和噪音降到最低。

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600 MHz 鎖相放大器



Moku:Pro 數字鎖相放大器支持從 DC 到 600 MHz 的雙相解調 (XY/Rθ),動態儲備優于120 dB。本機振蕩器可由其板載波形發生器產生或從外部設備輸入。四個高速模擬輸出可分配給輸出 X、Y、R、θ 和本地振蕩器以驅動外部設備?;旌?ADC 技術可在整個 600MHz 輸入帶寬內提供低本底噪聲。用戶可以通過內置探測點在數字信號處理各個階段監測和記錄信號。內置可選用 PID 控制器用于閉環控制和鎖相環應用。借助多功能 I/O 選項和 API 支持,您可以將鎖相放大器變成儀器的中央控制中心。


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混合型ADC



Moku:Pro 配備了一個 10 MSa/s、18位的 ADC和一個高速 5 GSa/s的10位 ADC。借助強大的FPGA,該系統結合了來自 ADC 的信息,在整個600 MHz 帶寬內提供行業領先的低輸入噪聲性能。我們的創新混合算法確保在所有傅里葉頻率上優化信噪比,而不影響延遲或信號帶寬。

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