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T3Ster? [發音:tri-ster]SI -- the Thermal Transient Tester SI:新一代熱瞬態測試儀,用于半導體分立器件的先進熱特性測試儀,同時用于測試復雜多核IC、TTV芯片等的熱特性。
Simcenter T3Ster SI根據客戶的需求而量身定制:5)Simcenter T3Ster SI具有完全重新設計的系統硬件架構和控制軟件6)Simcenter T3Ster SI的優化:
Simcenter T3Ster SI在軟件上旨在通過簡化測量設置來改善用戶體驗:? 在標準機架內的嵌入式System-on-Chip上運行控制軟件的服務器部分? 在標準互聯網瀏覽器中,包括Chrome瀏覽器,可以運行客戶端-- 用戶可以通過適當的網絡連接從任何地方控制系統? 客戶端僅提供圖形用戶界面(GUI),所有測量操作由服務器端控制? 控制軟件客戶端可以關閉連接,暫時掛起,測量將繼續進行而不會中斷? 用戶不再需要具有豐富的半導體、電路知識就能進行復雜的測量? 重新設計的用戶界面為操作人員提供簡單易用的界面,但為有經驗的工程師提供了高度的靈活性
Simcenter T3Ster SI一個標準機架最多可容納10個插入單元(Plug in Units)?實際的加熱通道和測量通道數量可以根據客戶需求和預算進行調整?多達40個測量通道 – 適合多核IC或者TTV芯片的測試?可將兩臺Simcenter T3Ster SI設備并行使用,最多獲得80個測量通道的測試能力
Simcenter T3Ster SI設備現在能夠自動選擇適當的測量范圍和參考電壓:? 在正式開始瞬態熱測試之前,設備會在被測器件上施加一個短的、大約幾毫秒長的加熱脈沖 -- 基于這個簡短的測量,Simcenter T3Ster SI設備的算法將會選擇適當的測量范圍,以確保加熱和冷卻瞬態都適合? 對于這個近似結果,用戶提供的溫度敏感參數和最大預期溫度瞬態信息被使用? 為加熱階段和冷卻階段測量定義不同的參考電壓,因此可以使用更小的測量范圍 -- 系統會根據測量狀態自動改變參考電壓。與傳統T3Ster相比。采樣精度更高,電氣噪音更小,測試原始曲線更加平滑。
Simcenter T3Ster SI設備可以應用在完整的半導體產業鏈:從器件到電子模塊各種復雜的多核IC以及TTV芯片。

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